芯片小高低温湿热试验箱

芯片小高低温试验箱适用于芯片等半导体样品的高低温湿度测试,体积小巧,桌面放置,占地小,适用于写字楼、研发楼等场地限制区域
颜色 颜色可定制
型号 YTH
温度范围 -40~+150℃
湿度范围 20%~98%RH
容积尺寸 27L\40L\50L\63L等
产品详情

1

产品名称

高低温湿热试验箱

2

产品型号

YTH-24C

3

内箱尺寸

W(宽)300mm×H(高)300mm×D(深)250mm

4

外箱尺寸

W(宽)500mm×H(高)850mm×D(深)950mm(以最终设计为准!

5

温度范围

-40℃~+150℃

6

温度分辨率

0.01℃

7

温度精度

0.1℃

8

温度波动度

±0.3℃(-40℃+100℃);±0.5℃(+100.1℃+150℃)

9

温度偏差

±2.0℃

10

温度均匀度

≤2℃

11

量测标准

量测SENSOR 置放点,离内箱壁内尺寸1/10 处(≧50mm)

12

升温速率

-21℃升到+131℃ 平均3.2℃/分钟(非线性,空载);

13

降温速率

+131℃降到-21℃ 平均2.1℃/分钟(非线性,空载);

14

温度到达时间

+20℃升到+15040min;

+20℃升到-3560min;

+20℃升到-40100min;

15

噪音

60dB(分贝计探头离地高度1.5米、距离1米远进行温箱前面噪音测量).

16

设备重量

100KG

17

湿度范围

30%~95%RH

18

湿度波动度

±2.5%RH

19

湿度偏差

75%RH(±3%RH),≤75%RH(±5%RH)